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高伟光学申请芯片检测方法专利提高产品的质量和生产效率!
发布于 2025-12-29 19:09 阅读()
国家知识产权局信息显示,东莞高伟光学电子有限公司申请一项名为“芯片检测方法、装置和系统”的专利,公开号CN121213446A,申请日期为2024年6月。
专利摘要显示,本发明实施例公开了一种芯片检测方法、装置和系统。通过获取从第一目标芯片背面拍摄的第一图像,在第一图像中确定第一目标芯片的识别区域,对第一目标芯片的识别区域进行二值化处理以获取第二图像,根据第二图像确定第一目标芯片的异常点数量,最后根据异常点数量确定第一目标芯片的检测结果。由此,可以及时对芯片进行检测,减少出现大量劣质芯片的概率,提高产品的质量和生产效率。九游体育
天眼查资料显示,东莞高伟光学电子有限公司,成立于2002年,位于东莞市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本43383.19万美元。通过天眼查大数据分析,东莞高伟光学电子有限公司共对外投资了6家企业,参与招投标项目14次,财产线条,此外企业还拥有行政许可73个。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
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