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先进光申请光耦继电器性能检测专利为对光耦继电器进行准确评估提供技术支撑!
发布于 2025-01-28 02:15 阅读()
金融界2025年1月27日消息,国家知识产权局信息显示,先进光半导体(深圳)有限公司申请一项名为“光耦继电器性能检测方法、装置、存储介质及电子设备”的专利,公开号CN 119355507 A,申请日期为2024年11月。
专利摘要显示,本公开涉及一种光耦继电器性能检测方法、装置、存储介质及电子设备,包括:确定待测光耦继电器两端对应开启电压的第一参数,生成待测光耦继电器对应开启电压变化情况的过程变化参数,九游体育官方平台获取偏置检测试验结束后,待测光耦继电器在经过偏置检测试验后的第二参数,确定待测光耦继电器对应初始参数与结果参数之间的参数差值;获取待测光耦继电器的失效变化常数,根据参数差值、失效变化常数和过程变化参数,确定待测光耦继电器的失效变化速率,根据第一参数和失效变化速率,生成待测光耦继电器的性能检测结果。九游体育官方平台从而基于退化失效时长来判定光耦继电器的性能,为对光耦继电器进行准确评估提供了技术支撑,获得光耦继电器的性能评估结果。
天眼查资料显示,先进光半导体(深圳)有限公司,成立于2021年,位于深圳市,是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析,先进光半导体(深圳)有限公司参与招投标项目2次,知识产权方面有商标信息9条,专利信息10条,此外企业还拥有行政许可1个。
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